AAS原子吸收光譜原理

基于氣態(tài)的基態(tài)原子外層電子對紫外光和可見光的吸收為基礎的分析方法。

當元素的特征輻射通過該元素的氣態(tài)基態(tài)原子區(qū)時，部分光被蒸氣中基態(tài)原子共振吸收而減弱，通過單色器和檢測器測得特征譜線被減弱的程度，即吸光度，根據(jù)吸光度與被測元素的濃度成線性關系，從而進行元素的定量分析。

AAS原子吸收光譜優(yōu)缺點

1. 靈敏度高，火焰原子法，ppm級，有時可達ppb級;石墨爐可達10-9~10-14(ppt級或更低)。

2. 準確度高，分析速度快：測定微、痕量元素的相對誤差可達0.1%～0.5%，分析一個元素只需數(shù)十秒至數(shù)分鐘。

3. 選擇性好，方法簡便：由光源發(fā)出特征性入射光很簡單，且基態(tài)原子是窄頻吸收，元素之間的干擾較小，可以測定大部分金屬元素。

局限性：多元素同時測定有困難;難熔元素(如W)、非金屬元素測定困難、對復雜樣品分析干擾也較嚴重;石墨爐原子吸收分析的重現(xiàn)性較差。

AAS原子吸收光譜應用

AES原子發(fā)射光譜原理

是利用物質(zhì)在熱激發(fā)或電激發(fā)下，每種元素的原子發(fā)射特征光譜來判斷物質(zhì)的組成并進行元素的定性與定量分析。

在正常狀態(tài)下，原子處于基態(tài)，原子在受到熱(火焰)或電(電火花)激發(fā)時，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，返回到基態(tài)時，發(fā)射出特征譜線。

AES原子發(fā)射光譜優(yōu)缺點

1. 多元素檢測，分析速度快。

2. 檢出限低，10～0.1mg×g-1(一般光源);ng×g-1(ICP—電感耦合等離子體光源)。

3. 準確度較高，5%～10% (一般光源); <1% (ICP) 。

4. 試樣消耗少(毫克級)，適用于微量樣品和痕量無機物組分分析，廣泛用于金屬、礦石、合金、和各種材料的分析檢驗。

局限性：非金屬元素不能檢測或靈敏度低。

AES原子發(fā)射光譜應用

AFS熒光光譜原理

介于原子發(fā)射(AES)和原子吸收(AAS)之間的光譜分析技術，其原理類似于原子發(fā)射光譜技術。通過測量待測元素的原子蒸氣在特定頻率輻射能激發(fā)下所產(chǎn)生的熒光發(fā)射強度，以此來測定待測元素含量的方法。

AFS熒光光譜優(yōu)缺點

1. 靈敏度高，檢出限較低。采用高強度光源可進一步降低檢出限，有20種元素優(yōu)于AAS。

2. 譜線簡單，干擾較少，可以做成非色散AFS。

3. 校正曲線范圍寬(3~5個數(shù)量級)。

4. 易制成多道儀器(產(chǎn)生的熒光各個方向發(fā)射)——多元素同時測定。

局限性：熒光淬滅效應、復雜基體效應等可使測定靈敏度降低;散色光干擾;可測量的元素不多，應用不廣泛(主要因為AES和AAS的廣泛應用，與它們相比，AFS沒有明顯的優(yōu)勢)。